HG/T 3331-1978 绝缘漆漆膜体积电阻系数和表面电阻系数测定法(原HG/T 2-59-78)
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 21:19:33 浏览:8771
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 绝缘漆漆膜体积电阻系数和表面电阻系数测定法(原HG/T 2-59-78) |
| 中标分类： |
化工 >>
涂料、颜料、染料 >>
涂料基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
电气工程 >>
绝缘材料 >>
其他绝缘材料
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| 替代情况： | 由HG 2-59-1978改号;被HG/T 3331-2012代替 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1978-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2013-03-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 化工 涂料 颜料 染料 涂料基础标准与通用方法 电气工程 绝缘材料 其他绝缘材料
【英文标准名称】:Opendatacommunicationinbuildingautomation,controlsandbuildingmanagement.Controlnetworkprotocol.Twistedpaircommunication
【原文标准名称】:建筑自动化,控制和建筑管理的开放式数据通信.控制网络协议.双扭线通信
【标准号】:BSEN14908-2-2005
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2005-11-25
【实施或试行日期】:2005-11-25
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:建筑物自控设备;建筑物管理;导(线)管;控制装置;控制设备;数据;数据通信;数据交换;数据网络;数据传送;数据传输方法;定义;电缆;英语;开放系统互连;开放系统互连(OSI);物理层;协议;传输协议;绞线;双扭线
【英文主题词】:Automationinstallationsinbuildings;Buildingmanagement;Conduits;Controldevices;Controlequipment;Data;Datacommunication;Dataexchange;Datanetwork;Datatransfer;Datatransmissionmethods;Definition;Electriccables;Englishlanguage;Opensystemsinterconnection;OSI;Physicallayers;Protocols;Transmissionprotocol;Twisted;Twistedpairs
【摘要】:ThisEuropeanStandardspecifiesthecontrolnetworkprotocol(CNP)free-topologytwisted-pairchannelandservesasacompanionEuropeanStandardtoprEN14908-1.Thechannelsupportscommunicationat78,125kbpsbetweenmultiplenodes,eachofwhichconsistsofatransceiver,aprotocolprocessor,anapplicationprocessor,apowersupply,andapplicationelectronics.ThisEuropeanStandardcoversthecompletephysicallayer(OSILayer1),includingtheinterfacetotheMediaAccessControl(MAC)sub-layerandtheinterfacetothemedium.Parametersthatarecontrolledbyotherlayersbutcontroltheoperationofthephysicallayerarealsospecified.
【中国标准分类号】:P07
【国际标准分类号】:35_240_99;91_140_01;97_120
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学 >>
集成电路、微电子学
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| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1992-01-02 |
| 实施日期： | 1993-08-01 |
| 首发日期： | 1992-12-17 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海件五厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-13 |
| 页数： | 平装16开， 页数：19， 字数：34千字 |
| 书号： | 155066.1-9730 |
适用范围
本标准规定了MOS和结型场效应半导体集成电路模拟开关电参数测试的基本原理。模拟开关与CMOS电路相同的静态参数和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
